技術(shù)：自主研發(fā)+高校實驗室聯(lián)合開發(fā)

品質(zhì)：對產(chǎn)品的精益追求+嚴格規(guī)范的測試

價格：科學的管理成本+高效率合作降低成本

客戶：大中院校+科研機構(gòu)+質(zhì)檢部門+實驗室等

源于精測  精品搖籃 之選  自強不息  厚德載物  厚積薄發(fā) 高速增長

新款GCSTD系列 介電常數(shù)絕緣性能測定儀

介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

測試電橋參數(shù) 

測試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本準確度 0.1% 

 L 0.0001 uH ～ 9.9999kH 

 C 0.0001 pF ～ 9.9999F 

 R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S 

 D 0.0001 ～ 9.9999 

 Q 0.0001 ～ 99999 

 θ -179.99°～ 179.99° 

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 

等效方式 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 

量程方式 自動, 保持 

顯示方式 直讀, Δ, Δ% 

觸發(fā)方式 內(nèi)部, 手動, 外部, 總線 

內(nèi)部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進 

新款GCSTD系列 介電常數(shù)絕緣性能測定儀